一种基于超材料吸收器的光学折射率传感器

发明专利无效专利

申请号：
CN201110321616.5
IPC分类号：G01N21/45
申请日期：
2011-10-20
申请人：
西北工业大学

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专利名称	一种基于超材料吸收器的光学折射率传感器
申请号	CN201110321616.5	申请日期	2011-10-20
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2013-04-24	公开/公告号	CN103063607A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/45 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕 G01N21/41 折射率；影响相位的性质，例如光程长度（G01N 21/21优先）〔3〕 G01N21/45 利用干涉量度法，利用纹影方法〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;4;5查看分类表>
申请人	西北工业大学	申请人地址	陕西省西安市碑林区友谊西路127号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西北工业大学	当前权利人	西北工业大学
发明人	赵晓鹏;朱卫仁;王晓农;洪刚;罗春荣
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明涉及一种基于超材料吸收器的光学折射率传感器。该超材料吸收器由纳米尺度的银多孔薄膜、PVA薄膜和银镜组成。当白光入射到吸收器表面时，会在上下表面干涉，由于特定波长的光被吸收器吸收，干涉条纹为非完全光谱。这种超材料吸收器可以用来实现对液体的折射率的裸眼检测，将被测液体放在吸收器表面，折射率的变化会引起干涉条纹的颜色以及宽度的变化。这种基于超材料吸收器的光学折射率传感器结构简单、制备方便，为光学折射率传感器的设计和应用提出了新的方法。

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