一种采样重建方法、装置、计算机设备及存储介质

发明专利有效专利

申请号：
CN202110813664.X
IPC分类号：G06T17/20;G06N3/04
申请日期：
2021-07-19
申请人：
香港中文大学（深圳）

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种采样重建方法、装置、计算机设备及存储介质
申请号	CN202110813664.X	申请日期	2021-07-19
法律状态	公开	申报国家	暂无
公开/公告日	2021-11-09	公开/公告号	CN113628338A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06T17/20 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06T 一般的图像数据处理或产生〔6，2006.01〕 G06T17/00 用于计算机制图的3D建模〔6〕 G06T17/20 线框绘图，例如：多边法或镶嵌〔6〕	IPC分类号	G;0;6;T;1;7;/;2;0;;;G;0;6;N;3;/;0;4查看分类表>
申请人	香港中文大学（深圳）	申请人地址	广东省深圳市龙岗区龙翔大道2001号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	香港中文大学（深圳）	当前权利人	香港中文大学（深圳）
发明人	李镇;颜旭;赵伟兵;崔曙光
代理机构	深圳尚业知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	王利彬

摘要

本发明公开了一种获取点云特征，利用PointLIE中预设的多个Rescale Layer依次对所述点云进行自适应采样得到子点云和服从特定分布的嵌入；从所述特定分布中随机采样一个嵌入，连同所述子点云，一起输入至所述PointLIE的最后一个Rescale Layer中，以及按照所述的多个Rescale Layer的反向顺序将自适应采样的子点云和嵌入进行反向重建；将重建得到的偏移按特征维度划分为多份特征偏移，并把每一份特征偏移加到重建出的采样的点云特征上，再进行均匀采样以还原出所述点云特征。PointLIE把丢失的点中蕴含的拓扑结构嵌入到一种服从特定分布的隐变量，因此，当需要重建稠密点云的时候，只需从这个特定的分布中随机地采样出一个隐变量，然后和正向过程自适应地采样出的子点云一起反向通过网络即可。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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