一种侧向进样XRF分析用样品杯

实用新型专利有效专利

申请号：
CN202023181854.4
IPC分类号：G01N23/223
申请日期：
2020-12-25
申请人：
西安佳谱电子科技有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种侧向进样XRF分析用样品杯
申请号	CN202023181854.4	申请日期	2020-12-25
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/223 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/206 （转入G01N 23/205） G01N23/22 通过测量来自材料的二次发射〔1，2，2006.01，2018.01〕 G01N23/223 通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光〔2，2006.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;2;2;3查看分类表>
申请人	西安佳谱电子科技有限公司	申请人地址	陕西省西安市西咸新区空港新城正平大街与宣明路十字东南角临空产业园3号楼B0401 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西安佳谱电子科技有限公司	当前权利人	西安佳谱电子科技有限公司
发明人	高志帆;张红平;陈泽武;田碧蓝;宋硙;孙宣兵;王晶晶
代理机构	北京久维律师事务所	代理人	邢江峰

摘要

本实用新型提供一种侧向进样XRF分析用样品杯，包括样品杯体、分析薄膜、膜套环、橡胶圈、压杆，所述压杆在轴向上设置密封凹槽和排气孔，橡胶圈设置在密封凹槽，压杆放置在样品杯体内，膜套环将分析薄膜固定在样品杯体。本实用新型制作出的样品可以被有效压实，且样品表面平整、分布均匀，在侧向进样的XRF分析仪器上进样、测量时也可以保证样品表面与探测平面的紧密贴合，进而得到与样品中真实元素含量高度一致的测量结果，减小因样品松散、表面不平整、分布不均匀对X射线激发、荧光产生、测量过程所造成的影响，具有结构简单，测量数据准确，效果好的特点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供