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一种半导体激光器的测试和老化适配器

实用新型专利无效专利
  • 申请号:
    CN201020615039.1
  • IPC分类号:G01R31/26;H01S5/00
  • 申请日期:
    2010-11-19
  • 申请人:
    无锡亮源激光技术有限公司
著录项信息
专利名称一种半导体激光器的测试和老化适配器
申请号CN201020615039.1申请日期2010-11-19
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R31/26IPC分类号G;0;1;R;3;1;/;2;6;;;H;0;1;S;5;/;0;0查看分类表>
申请人无锡亮源激光技术有限公司申请人地址
江苏省无锡市锡山经济开发区芙蓉中三路99号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人无锡亮源激光技术有限公司当前权利人无锡亮源激光技术有限公司
发明人李大明;潘华东;张军
代理机构北京品源专利代理有限公司代理人冯铁惠
摘要
一种半导体激光器的测试和老化适配器,包括适配器底座、适配器电极、半导体激光器、弹簧压头、适配器上盖、上盖紧固螺栓,半导体激光器放置在适配器底座的中间,半导体激光器用上面的适配器电极和弹簧压头固定和压紧,适配器上盖为适配器底座、适配器电极、半导体激光器、弹簧压头提供机械防护作用,同时为半导体激光器测试和老化提供受压平台,以确保适配器底座的均匀冷却。本实用新型公开的一种用于半导体激光器ChiponSubmount(CoS)的测试和老化筛选适配器。这种适配器为多个芯片集成封装时所需要的功率一致性,波长一致性,热阻一致性等多项性能提供了可靠和有效的测试评估工具。在此设计基础上提供了相应的测试参数,证实了此设计的可行性。

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