磁流体填充晶体光纤环镜下温度和磁场同时检测的方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201310602783.6
IPC分类号：G01D21/02
申请日期：
2013-11-26
申请人：
沈阳工程学院

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专利名称	磁流体填充晶体光纤环镜下温度和磁场同时检测的方法
申请号	CN201310602783.6	申请日期	2013-11-26
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2014-03-05	公开/公告号	CN103616046A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01D21/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01D 非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试 G01D21/00 未列入其他类目的测量或测试 G01D21/02 用不包括在其他单个小类中的装置来测量两个或更多个变量	IPC分类号	G;0;1;D;2;1;/;0;2查看分类表>
申请人	沈阳工程学院	申请人地址	辽宁省沈阳市沈北新区蒲昌路18号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	沈阳工程学院	当前权利人	沈阳工程学院
发明人	张玉艳;陈阳春;赵琰;张小辉;高琳琳;马阳;高庆忠;林盛;于洪涛;王德君
代理机构	沈阳技联专利代理有限公司	代理人	张志刚

摘要

磁流体填充晶体光纤环镜下温度和磁场同时检测的方法，涉及一种微型光电子检测的方法，在结构对称的光子晶体光纤的空气孔中选择性填充磁流体，选取水平方向中心行；光子晶体光纤的双折射特性随之改变，构成温度/磁场可调双折射光子晶体光纤；用该光纤取代Sagnac环镜中的常规双折射光纤，相邻两谐振谷之间间距和谐振谷漂移量均随温度和磁场变化而变化，且变化灵敏度各不相同，据此根据双参数矩阵法实现温度和磁场同时检测；该方法提高传感器的稳定性能和测量灵敏度，解决了光纤传感器的温度和磁场交叉敏感问题，实现和利用了一个光纤同时进行温度和磁场的测量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
1	CN102183318A	2011-09-14	2011-03-08	双并联高双折射光纤sagnac干涉环多参数传感器有效专利	上海交通大学
2	US5644397A	暂无	1996-03-26	Fiber optic interferometric circuit and magnetic field sensor失效专利	James N. Blake
3	CN103076575A	2013-05-01	2012-10-18	基于磁流体灌注保偏型光子晶体光纤的磁场传感器无效专利	中国计量学院
4	CN101294808A	2008-10-29	2008-06-12	一种基于双芯光子晶体光纤的光纤陀螺无效专利	浙江大学
5	CN103196488A	2013-07-10	2013-03-12	用于磁场和温度同时检测的光子晶体光纤光栅传感方法失效专利	东北大学

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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