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双并联高双折射光纤sagnac干涉环多参数传感器

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201110054072.0
  • IPC分类号:G01K11/32;G01L1/24;G02B6/27;G02B6/293
  • 申请日期:
    2011-03-08
  • 申请人:
    上海交通大学
著录项信息
专利名称双并联高双折射光纤sagnac干涉环多参数传感器
申请号CN201110054072.0申请日期2011-03-08
法律状态暂无申报国家中国
公开/公告日2011-09-14公开/公告号CN102183318A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01K11/32IPC分类号G;0;1;K;1;1;/;3;2;;;G;0;1;L;1;/;2;4;;;G;0;2;B;6;/;2;7;;;G;0;2;B;6;/;2;9;3查看分类表>
申请人上海交通大学申请人地址
上海市闵行区金都路4299号6幢2楼C8室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海交大知识产权管理有限公司当前权利人上海交大知识产权管理有限公司
发明人史杰;肖石林;眭程乐;陈荷;毕美华;朱敏
代理机构上海交达专利事务所代理人王锡麟;王桂忠
摘要
一种光纤通信技术领域的双并联高双折射光纤sagnac干涉环多参数传感器,包括:依次串联的宽谱光源、波长选择开关、高双折射光纤sagnac干涉环、光纤合波器和光谱分析仪,双折射光纤sagnac干涉环由两个耦合器和两个偏振控制器组成。本发明通过波长选择开关将两个高双折射sagnac干涉环并联起来作为光纤传感器,能同时实现温度和应变测量,具有结构简单、成本低和测量精度高的优点。

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