一种阵列型LED芯片目测用检测装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201821498453.1
IPC分类号：G01R31/28
申请日期：
2018-09-13
申请人：
上海聚跃检测技术有限公司

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著录项信息

专利名称	一种阵列型LED芯片目测用检测装置
申请号	CN201821498453.1	申请日期	2018-09-13
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	上海聚跃检测技术有限公司	申请人地址	上海市徐汇区钦江路333号37号楼1楼A区变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海聚跃检测技术有限公司	当前权利人	上海聚跃检测技术有限公司
发明人	尚跃;余夕霞
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本实用新型公开了一种阵列型LED芯片目测用检测装置，包括基座，所述的基座上设置有支撑杆，所述支撑杆上设置有弹性下压台，所述的弹性下压台的弹力回复方向向上，所述的弹性下压台的下表面设置有导电压桩，所述的弹性下压台上设置有钴玻璃遮挡镜片，所述的支撑杆上转动连接至少一个辅助钴玻璃镜片。本实用新型通过弹性下压台配合辅助钴玻璃镜片，可实现对不同功率的阵列封装LED芯片进行目测检测。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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