X射线位相成像装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201010180951.3
IPC分类号：G03B42/02;G21K1/00;G01N23/04
申请日期：
2010-05-18
申请人：
北京师范大学

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	X射线位相成像装置
申请号	CN201010180951.3	申请日期	2010-05-18
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2010-09-15	公开/公告号	CN101833233A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G03B42/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G03 摄影术；电影术；利用了光波以外其他波的类似技术；电记录术；全息摄影术〔4〕 G03B 摄影、放映或观看用的装置或设备；利用了光波以外其他波的类似技术的装置或设备；以及有关的附件（这些装置的光学部分入G02B；照相用的感光材料或加工方法入G03C；加工曝光后的照相材料的设备入G03D）〔4〕 G03B42/00 利用光波以外的波获得记录；这类记录利用光学装置的显像〔4〕 G03B42/02 利用X射线，〔4〕	IPC分类号	G;0;3;B;4;2;/;0;2;;;G;2;1;K;1;/;0;0;;;G;0;1;N;2;3;/;0;4查看分类表>
申请人	北京师范大学	申请人地址	北京市海淀区新街口外大街19号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京师范大学	当前权利人	北京师范大学
发明人	孙天希;李玉德;刘志国;林晓燕;罗萍;潘秋丽;滕玥鹏
代理机构	北京集佳知识产权代理有限公司	代理人	魏晓波;逯长明

摘要

本发明公开了一种X射线位相成像装置，包括依次排列的X射线光源（1）、光学器件（2）和X射线探测器（4），所述X射线光源（1）发出的X射线沿所述光学器件（2）的一端到另一端，并形成微焦斑（5），经过被成像的样品（3）后，在所述X射线探测器（4）上成像，所述光学器件（2）为单毛细管，其出口直径的范围为1μm-30μm。该成相装置可以形成尺寸更小的微焦斑，以提高X射线位相成像的空间分辨率，使X射线位相成像更清晰，而且该装置造价低廉，便于推广。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供