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一种用于制造后处理器芯片验证的随机验证方法及装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201010104635.8
  • IPC分类号:G06F11/36
  • 申请日期:
    2010-02-03
  • 申请人:
    北京龙芯中科技术服务中心有限公司
著录项信息
专利名称一种用于制造后处理器芯片验证的随机验证方法及装置
申请号CN201010104635.8申请日期2010-02-03
法律状态暂无申报国家中国
公开/公告日2010-09-08公开/公告号CN101826050A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06F11/36IPC分类号G;0;6;F;1;1;/;3;6查看分类表>
申请人北京龙芯中科技术服务中心有限公司申请人地址
北京市海淀区中关村环保科技示范园龙芯产业园2号楼 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人龙芯中科技术股份有限公司当前权利人龙芯中科技术股份有限公司
发明人沈海华;黄静;王朋宇
代理机构北京远大卓悦知识产权代理事务所(普通合伙)代理人史霞
摘要
本发明公开了一种用于制造后处理器芯片验证的随机验证方法及装置。方法包括如下步骤:在指令模版中添加保留寄存器和保留内存地址相关的约束;增加寄存器初始化程序生成器、内存初始化程序生成器和指令计数器;改造随机程序生成引擎,去除原有的寄存器初始化文件生成机制和内存初始化文件生成机制,并改变原有指令序列产生终止条件;增加随机生成程序记录器、寄存器比较程序生成器和内存比较程序生成器;将运用前述用于制造后处理器芯片验证的随机指令生成方法后生成的文件转化为软件平台可调度的文件格式;指定不同程序代码段在内存中装载的起始位置;将转化为软件平台可调度的文件格式的程序代码段按照指定的起始位置装载进相应的内存地址中。

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