一种具有负极共用特征的自标定薄膜热电偶阵列

发明专利有效专利

申请号：
CN201910292301.9
IPC分类号：G01K15/00;G01K7/02
申请日期：
2019-04-12
申请人：
中国计量大学

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著录项信息

专利名称	一种具有负极共用特征的自标定薄膜热电偶阵列
申请号	CN201910292301.9	申请日期	2019-04-12
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2019-06-28	公开/公告号	CN109945993A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01K15/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01K 温度测量；热量测量；未列入其他类目的热敏元件（辐射高温测定法入G01J 5/00） G01K15/00 温度计的测试或校准	IPC分类号	G;0;1;K;1;5;/;0;0;;;G;0;1;K;7;/;0;2查看分类表>
申请人	中国计量大学	申请人地址	浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国计量大学	当前权利人	中国计量大学
发明人	丁炯;王佳音;杨遂军;叶树亮
代理机构	杭州奥创知识产权代理有限公司	代理人	王佳健

摘要

本发明涉及一种具有负极共用特征的自标定薄膜热电偶阵列，所述热电偶阵列是一种实现多点测温的薄膜传感器，属于表面温度测量领域。本发明采用丝网印刷加工技术在直径为22mm的绝缘基底表面印刷8组相连的金铂薄膜热电偶阵列，这8组热电偶阵列在圆形基底表面等分均布，其中每组包括3个铂极共用的薄膜热电偶，对应的热结点等间距分布在铂极上。所述薄膜热电偶阵列的静态特性标定基于温度外推法。采用此发明可同步测量区域内多点温度变化，提供更准确的温度分布；同时负极共用的特点可有效减少引线数量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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