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电子组件测试系统与期限稽核方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202010390952.4
  • IPC分类号:G06F21/12;G06F21/51;G06F11/36
  • 申请日期:
    2020-05-11
  • 申请人:
    致茂电子(苏州)有限公司
著录项信息
专利名称电子组件测试系统与期限稽核方法
申请号CN202010390952.4申请日期2020-05-11
法律状态公开申报国家中国
公开/公告日2021-11-12公开/公告号CN113641963A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06F21/12IPC分类号G;0;6;F;2;1;/;1;2;;;G;0;6;F;2;1;/;5;1;;;G;0;6;F;1;1;/;3;6查看分类表>
申请人致茂电子(苏州)有限公司申请人地址
江苏省苏州市苏州高新区珠江路855号(第七号厂房) 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人致茂电子(苏州)有限公司当前权利人致茂电子(苏州)有限公司
发明人杨子庆;林士超
代理机构北京集佳知识产权代理有限公司代理人刘晓菲
摘要
本申请提供一种电子组件测试系统与期限稽核方法,所述电子组件测试系统包含测试装置以及接口装置。所述测试装置包含背板,背板用以电性连接于至少一个测试单板,且背板包含期限稽核组件,期限稽核组件储存授权开始时点和授权终止时点。所述接口装置电性连接测试装置,用以提供测试指令。其中测试装置依据测试指令启动测试程序,当测试程序结束后,期限稽核组件将授权开始时点更新为测试程序结束时的第一停止时点。

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