方波调制实现空间测角的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201310269890.1
IPC分类号：G01B11/26
申请日期：
2013-06-28
申请人：
中国科学院西安光学精密机械研究所

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著录项信息

专利名称	方波调制实现空间测角的方法
申请号	CN201310269890.1	申请日期	2013-06-28
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2013-10-09	公开/公告号	CN103344199A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/26 用于计量角度或锥度；用于检测轴线准直	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;2;6查看分类表>
申请人	中国科学院西安光学精密机械研究所	申请人地址	陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院西安光学精密机械研究所	当前权利人	中国科学院西安光学精密机械研究所
发明人	陆卫国;吴易明;肖茂森;李春艳;王海霞
代理机构	西安智邦专利商标代理有限公司	代理人	胡乐

摘要

本发明提供了一种方波调制实现空间测角的方法，旨在实现高精度、稳定测角。该方法中，线偏振光经过外加的一种具体方波磁光调制信号的磁光玻璃后，成为携带调制信号的调制偏振信号光；调制偏振信号光经过渥拉斯顿棱镜，分为两路偏振方向相互垂直的信号光Io、Ie，分别被两个探测器接收，对接收到的信号输出至信号处理电路，进行特定的优化解算，从而得出渥拉斯顿棱镜光轴与起偏器光轴之间相对初始夹角45°的偏离方位角α。本发明消除了光源波动、两路信号增益差异、调制度mf波动的影响及Wollaston棱镜出射光强非线性的影响，提高了装置实用性，使整个装置具有测角精度高、测角速度快、稳定可靠等特点。

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