加载中...
首页专利查询专利详情

*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

半导体装置

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200780029278.X
  • IPC分类号:H01L25/07;H01L25/18
  • 申请日期:
    2007-07-25
  • 申请人:
    本田技研工业株式会社
著录项信息
专利名称半导体装置
申请号CN200780029278.X申请日期2007-07-25
法律状态权利终止申报国家暂无
公开/公告日2009-08-05公开/公告号CN101501847
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L25/07IPC分类号H;0;1;L;2;5;/;0;7;;;H;0;1;L;2;5;/;1;8查看分类表>
申请人本田技研工业株式会社申请人地址
日本东京都 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人本田技研工业株式会社当前权利人本田技研工业株式会社
发明人高野文朋;渡边信也;合叶司;中岛穰二;大塚浩
代理机构北京市金杜律师事务所代理人陈伟
摘要
本发明提供一种半导体装置。半导体装置包括第一及第二组装体(12A、12B)。第一组装体具有第一半导体芯片、接合在第一半导体芯片的一侧表面上的高压母线(21)、通过接合线连接在第一半导体芯片的另一侧表面上的第一金属配线板(24-1)、连接在第一金属配线板上的第三金属配线板(24-3)。第二组装体具有第二半导体芯片、通过接合线连接在第二半导体芯片的一侧表面上的低压母线(23)、接合在第二半导体芯片的另一侧表面上的第二金属配线板(24-2)、从第二金属配线板的端部折回地连结且与第二金属配线板平行地配置的第四金属配线板(24-4)。第一及第二组装体以隔开间隔的层叠结构配置。通过该半导体模块结构能够降低主电路的电感。

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供