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光刻用下层膜形成材料、光刻用下层膜及图案形成方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201610562638.3
  • IPC分类号:G03F7/11;G03F7/09;H01L21/027
  • 申请日期:
    2012-08-09
  • 申请人:
    三菱瓦斯化学株式会社
著录项信息
专利名称光刻用下层膜形成材料、光刻用下层膜及图案形成方法
申请号CN201610562638.3申请日期2012-08-09
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2016-11-09公开/公告号CN106094440A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G03F7/11IPC分类号G;0;3;F;7;/;1;1;;;G;0;3;F;7;/;0;9;;;H;0;1;L;2;1;/;0;2;7查看分类表>
申请人三菱瓦斯化学株式会社申请人地址
日本东京都 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人三菱瓦斯化学株式会社当前权利人三菱瓦斯化学株式会社
发明人越后雅敏;东原豪;内山直哉
代理机构北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)代理人刘新宇;李茂家
摘要
提供碳浓度高、氧浓度低、耐热性较高、溶剂溶解性也比较高、能够适用湿式工艺的新型光刻用下层膜形成材料、光刻用下层膜及图案形成方法。一种下述通式(1)所示的化合物作为光刻用下层膜的应用,式(1)中,X各自独立地是氧原子或硫原子,R1各自独立地是单键或碳原子数为1~30的2n价的烃基,该烃基任选具有环式烃基、双键、杂原子或碳原子数为6~30的芳香族基团,R2各自独立地是碳原子数为1~10的直链状、支链状或环状的烷基、碳原子数为6~10的芳基、碳原子数为2~10的链烯基或羟基,其中,R2的至少一个是羟基,m各自独立地是1~6的整数,n是1~4的整数。

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