非接触式超声波法局部放电检测仪的考核校验装置及方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201610528116.1
IPC分类号：G01R35/00
申请日期：
2016-06-30
申请人：
杭州西湖电子研究所

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著录项信息

专利名称	非接触式超声波法局部放电检测仪的考核校验装置及方法
申请号	CN201610528116.1	申请日期	2016-06-30
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2016-09-21	公开/公告号	CN105954698A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R35/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R35/00 包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准〔2〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;5;/;0;0查看分类表>
申请人	杭州西湖电子研究所	申请人地址	浙江省杭州市余杭区仓前街道龙潭路22号1幢4楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	杭州西湖电子研究所	当前权利人	杭州西湖电子研究所
发明人	陈伟中;楼狄;张武波;曹超;刘凤琳;陈云鹏;杜合;胡志鹏;厉洋;叶新林;王光祥
代理机构	杭州君度专利代理事务所（特殊普通合伙）	代理人	杜军

摘要

本发明公开了一种非接触式超声波法局部放电检测仪的考核校验装置及方法，其中装置部分包括信号激励源、超声波换能器模块、校验平台、参考传感器、示波器、50Ω同轴电缆，被检仪器包括被测传感器和局放检测仪，本发明可检测项目包括灵敏度、检测频带、线性度、稳定性等，测试方法容易实现、调试简单快速、测试过程方便快捷，适用于电力检测行业的非接触式超声波法局部放电检测仪的例行维护、测试、校正等性能考核，保证检测仪器的有效性、可靠性。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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