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一种带有限位机构的芯片测试装置

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN202021612514.X
  • IPC分类号:G01R31/28;G01R1/04
  • 申请日期:
    2020-08-06
  • 申请人:
    武汉源和泳涵科技有限公司
著录项信息
专利名称一种带有限位机构的芯片测试装置
申请号CN202021612514.X申请日期2020-08-06
法律状态授权申报国家暂无
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R31/28IPC分类号G;0;1;R;3;1;/;2;8;;;G;0;1;R;1;/;0;4查看分类表>
申请人武汉源和泳涵科技有限公司申请人地址
湖北省武汉市东湖高新光谷大道国际企业中心文韬楼A座406室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人武汉源和泳涵科技有限公司当前权利人武汉源和泳涵科技有限公司
发明人姚静;曾龙;王谦
代理机构暂无代理人暂无
摘要
本实用新型公开了一种带有限位机构的芯片测试装置,包括底座和固定设置在底座上方的固定板,所述固定板的底部转动设置有伸缩杆,所述伸缩杆的外侧固定连接有套环,且套环的端面固定设置有弹性件,所述伸缩杆和弹性件的伸缩端设置有同一限位块。本实用新型中,固定板上设置有伸缩杆和连接件,伸缩杆上设置有弹性件和限位块,连接件采用橡胶轮或齿轮,相邻伸缩杆的连接件相互接触,当一个伸缩杆转动时,带动剩余所有的伸缩杆联动,此设计可以使伸缩杆快速调节至适配芯片大小的尺寸,再拉动伸缩杆,在弹性件的收缩下由限位块夹住芯片,故本装置可以对多种尺寸的芯片进行限位,增强了装置的实用性。

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