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一种基于双芯光纤干涉条纹的生成和采集测量装置
实用新型无效专利摘要:本实用新型公开了一种基于双芯光纤干涉条纹的生成和采集测量装置,还包括干涉条纹的生成以及条纹的投射与采集处理;其中干涉条纹的生成在信号部整体框架中,LD光源由光纤耦合器分成两路光纤传输,其中光纤一部分缠绕在压电陶瓷PZT上,光纤一与另一路光纤二集合到双芯光纤,双芯光纤干涉经由光纤发射端发射,经过反光镜投射到被测物表面;采集处理的测量部整体框架中反光镜的反射光线通过透镜、孔径光阑、准直透镜至CCD摄像机;测头支撑结构在反光镜下;光纤发射端下设有螺纹调整机构。计算机分析变形条纹获得被测物表面三维信息,适用于狭小空间内物体三维形貌测量,具有测量速度快及测量精度高的特点。
*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供