辐射扫描检查设备

发明专利有效专利

申请号：
CN201910981849.4
IPC分类号：G01N23/04;G01N23/203;G01V5/00;B60B33/00
申请日期：
2019-10-16
申请人：
同方威视技术股份有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	辐射扫描检查设备
申请号	CN201910981849.4	申请日期	2019-10-16
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-04-16	公开/公告号	CN112666188A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/00 利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、（或中子，未包括在G01N3/00至G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00）〔1，2006.01〕 G01N23/02 通过使辐射透过材料 G01N23/04 并形成材料的图片〔1，2006.01，2018.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;0;4;;;G;0;1;N;2;3;/;2;0;3;;;G;0;1;V;5;/;0;0;;;B;6;0;B;3;3;/;0;0查看分类表>
申请人	同方威视技术股份有限公司	申请人地址	北京市海淀区双清路同方大厦A座2层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	同方威视技术股份有限公司	当前权利人	同方威视技术股份有限公司
发明人	宋全伟;樊旭平;孙尚民;郭以伟;史俊平;何远;孟辉;宗春光;胡煜;倪秀琳
代理机构	中国贸促会专利商标事务所有限公司	代理人	艾春慧

摘要

本发明公开一种辐射扫描检查设备，包括：辐射检查装置，包括刚性的门型构架，所述门型构架包括横向部和分别连接于所述横向部左右两端的第一纵向部和第二纵向部；行走装置，包括多个轮组件，所述多个轮组件分别设于所述第一纵向部底部和所述第二纵向部底部；纠偏装置，用于使所述行走装置保持直线行走。本发明的辐射扫描检查设备可以稳定直线行走，提高对被检物的辐射扫描检查成像的质量和效率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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