微波相位移测量方法和自动装置

发明专利无效专利

申请号：
CN200610134124.4
IPC分类号：G01R27/28;G01R27/32
申请日期：
2006-11-02
申请人：
沈阳航空工业学院

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	微波相位移测量方法和自动装置
申请号	CN200610134124.4	申请日期	2006-11-02
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2007-05-30	公开/公告号	CN1971294
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R27/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R27/00 测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置 G01R27/28 衰减、增益、相移或四端网络，即双端对网络的派生特性的测量；瞬态响应的测量（在线路传输系统中的入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;2;7;/;2;8;;;G;0;1;R;2;7;/;3;2查看分类表>
申请人	沈阳航空工业学院	申请人地址	辽宁省沈阳市新城子区道义经济技术开发区京沈街37号(沈航电子工程系) 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	沈阳航空工业学院	当前权利人	沈阳航空工业学院
发明人	张述杰;高建平;张芝贤
代理机构	沈阳维特专利商标事务所	代理人	甄玉荃

摘要

本发明涉及无线电测量技术，特别涉及微波相位移测量方法与自动装置。现有的电桥测量装置由于存在着失配误差，为了减小失配误差，往往需要在电桥测量装置的两个微波信号通道中插入若干个只能由人工来操作的调配器。当微波元件自身反射较大的时候，调配是很难实现的，所以其测量精度较低。在本发明提供的微波相位移测量方法与自动测量装置中，无需插入调配器，而是利用辅助相移器来改变反射系数的符号，采用四次平均测量法来消除失配误差。另外，用转角电机驱动辅助相移器，用步进电机驱动标准相移器，并由计算机硬件电路和软件程序控制其测量过程、数据计算和文本打印，实现了自动化测量。本发明提供的微波相位移自动装置是一种较精密的相位移测量装置，在生产与科研领域具有推广应用价值。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供