LED支架缺陷判定方法及系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201911395306.0
IPC分类号：G01N21/88;H01L21/66;G06T7/00;G06T7/11;G06T7/194
申请日期：
2019-12-30
申请人：
研祥智能科技股份有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	LED支架缺陷判定方法及系统
申请号	CN201911395306.0	申请日期	2019-12-30
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2020-04-24	公开/公告号	CN111060519A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/88 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕 G01N21/88 测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;8;8;;;H;0;1;L;2;1;/;6;6;;;G;0;6;T;7;/;0;0;;;G;0;6;T;7;/;1;1;;;G;0;6;T;7;/;1;9;4查看分类表>
申请人	研祥智能科技股份有限公司	申请人地址	广东省深圳市光明新区高新路11号研祥智谷创祥地1号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	研祥智能科技股份有限公司	当前权利人	研祥智能科技股份有限公司
发明人	陈润康;林淼;张春平;刘志永
代理机构	北京兰亭信通知识产权代理有限公司	代理人	赵永刚

摘要

本发明提供一种LED支架缺陷判定方法及系统。所述方法包括：获取LED支架的待测图像；根据待测目标在所述待测图像中LED支架的位置信息，对待测图像进行分割，并得到至少一个第一待测子图像；采用预设的模板图像对每个第一待测子图像进行匹配，并得到相应的匹配系数；根据匹配系数判断所述LED支架中的待测目标是否基本正常；若判定LED支架基本正常，根据LED支架对应的待测图像的灰度值，对LED支架对应的待测图像进行分割，并得到至少一个第二待测子图像；对每个第二待测子图像进行连通域分析，并得到相应的待测目标的属性信息；根据待测目标的属性信息判定所述LED支架是否存在缺陷。本发明能够精准快速的对LED支架上的待测目标进行判定，并能够节省劳动力。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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