离子-电子混合导体材料的离子电导率测试方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201510228276.X
IPC分类号：G01N27/04;G01R27/02
申请日期：
2015-05-07
申请人：
上海大学

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著录项信息

专利名称	离子-电子混合导体材料的离子电导率测试方法
申请号	CN201510228276.X	申请日期	2015-05-07
法律状态	撤回	申报国家	暂无
公开/公告日	2015-08-26	公开/公告号	CN104865295A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N27/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N27/00 用电、电化学或磁的方法测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 25/00优先；电或磁变量的测量或试验，材料的电磁性能的测试或试验入G01R） G01N27/02 通过测试阻抗 G01N27/04 通过测试电阻	IPC分类号	G;0;1;N;2;7;/;0;4;;;G;0;1;R;2;7;/;0;2查看分类表>
申请人	上海大学	申请人地址	上海市宝山区上大路99号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海大学	当前权利人	上海大学
发明人	甄强;谭威;李榕
代理机构	上海上大专利事务所（普通合伙）	代理人	顾勇华

摘要

本发明公开了一种离子-电子混合导体材料的离子电导率测试方法，基于电子阻塞后测量特测混合电导材料的离子电导率因测量尺寸范围的变化而引起的电阻变化而计算得到其离子电导率。在测试过程中，这一方法可以避免因切割材料而导致的加工工序，从而导致材料本身在加工过程中的损耗。同时，也能避免因为材料尺寸改变而导致的测量误差。本发明测量方法简单方便，同时最大程度上减少了误差。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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