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一种误差可控的小线段轨迹光顺方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201811468150.X
  • IPC分类号:B25J9/16;B23Q15/00;G05B19/19
  • 申请日期:
    2018-12-03
  • 申请人:
    武汉工程大学
著录项信息
专利名称一种误差可控的小线段轨迹光顺方法
申请号CN201811468150.X申请日期2018-12-03
法律状态授权申报国家暂无
公开/公告日2019-04-05公开/公告号CN109571473A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号B25J9/16IPC分类号B;2;5;J;9;/;1;6;;;B;2;3;Q;1;5;/;0;0;;;G;0;5;B;1;9;/;1;9查看分类表>
申请人武汉工程大学申请人地址
湖北省武汉市洪山区雄楚大街693号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人武汉工程大学当前权利人武汉工程大学
发明人何姗姗;颜昌亚;李振瀚;黄昆涛;邓炎超
代理机构湖北武汉永嘉专利代理有限公司代理人唐万荣;杨晓燕
摘要
一种误差可控的小线段轨迹光顺方法,包括如下步骤:步骤1、机器人轨迹点预处理:对整条轨迹的所有轨迹点进行遍历,根据轨迹点之间的距离和夹角进行分段,将整条轨迹划分为若干段折线段集合;步骤2、轨迹点光顺:遍历步骤1生成的折线段集合,对每一条折线段按照轨迹点误差阈值、弦高误差阈值、连续性要求和光顺要求,计算光顺轨迹。本发明将小线段轨迹光顺生成满足连续性、保形和误差要求的光顺轨迹,提高数控加工或工业机器人应用的工作效率和工作质量;光顺曲线适用于不同连续性和执行效率的需求;与现有过渡方法相比,本发明的光顺曲线能够控制轨迹点误差,达到插值的效果,从而能够保留轨迹点特征。

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