一种基于相衬成像的高能X射线CT装置及成像方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202010191200.5
IPC分类号：G01N23/046;G01N23/041
申请日期：
2020-03-18
申请人：
中国工程物理研究院流体物理研究所

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著录项信息

专利名称	一种基于相衬成像的高能X射线CT装置及成像方法
申请号	CN202010191200.5	申请日期	2020-03-18
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2020-06-16	公开/公告号	CN111289545A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/046 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕 G01N21/88 测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕 G01N21/95 特征在于待测物品的材料或形状（G01N 21/89至G01N 21/91，G01N 21/94优先）〔7〕 G01N23/046 应用X光断层技术，如计算机X光断层技术〔2018.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;0;4;6;;;G;0;1;N;2;3;/;0;4;1查看分类表>
申请人	中国工程物理研究院流体物理研究所	申请人地址	四川省绵阳市游仙区绵山路64号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国工程物理研究院流体物理研究所	当前权利人	中国工程物理研究院流体物理研究所
发明人	章林文;刘进;夏连胜;张篁;阳庆国;李晶
代理机构	成都行之专利代理事务所（普通合伙）	代理人	唐邦英

摘要

本发明公开了一种基于相衬成像的高能X射线CT装置及成像方法，所述高能X射线CT装置包括高能X射线源、样品台和成像装置；高能X射线源为高能X射线准点光源，为样品的照射光源，定向发射并辐照、透射样品；样品台用于放置样品，高能X射线源透过样品后，透射的X射线以波动方式传输并在样品后方的像平面处相干叠加而形成含相位与振幅信息的光子强度信息；成像装置设置在样品后方的像平面处，光子强度信息，并将光子强度信息转化成图像信号。本发明解决了现有基于高能X射线吸收衬度CT技术导致获取的CT图像质量不够理想，空间分辨率较差，尤其是获取的产品内部微小间隙的图像分辨率很低，微小间隙可见不可测，且难以辨别微缺陷的问题。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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