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回波平面成像涡流伪影的无参考扫描校正方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201811453665.2
  • IPC分类号:G06T11/00;G06T5/10;G06T5/00
  • 申请日期:
    2018-11-30
  • 申请人:
    厦门大学
著录项信息
专利名称回波平面成像涡流伪影的无参考扫描校正方法
申请号CN201811453665.2申请日期2018-11-30
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2019-05-10公开/公告号CN109741409A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06T11/00IPC分类号G;0;6;T;1;1;/;0;0;;;G;0;6;T;5;/;1;0;;;G;0;6;T;5;/;0;0查看分类表>
申请人厦门大学申请人地址
福建省厦门市思明南路422号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人厦门大学当前权利人厦门大学
发明人蔡淑惠;丁明为;练旭东;蔡聪波
代理机构厦门市首创君合专利事务所有限公司代理人张松亭;林燕玲
摘要
回波平面成像涡流伪影的无参考扫描校正方法,首先对神经网络的参数进行训练:利用模拟软件随机批量生成模拟样本,然后导入预先编写好的EPI序列对这些模拟样本进行采样,得到对应每个样本的K空间数据。根据涡流效应的相位特点,对采集到的信号进行相位修改,再进行傅里叶变换得到受涡流效应影响的模拟EPI图像。修改的相位信息作为标签保存下来。将这些图像作为训练数据集对神经网络模型进行训练,当训练误差减小到设定的阈值以下时,保存网络参数。神经网络模型训练完成后,将真实采集的EPI图像输入神经网络模型进行重建,即可得到去除了涡流伪影的EPI图像。本发明在无参考扫描的情况下实现EPI图像涡流伪影的去除,可以为EPI的临床应用提供帮助。

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