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测试连接器

发明专利无效专利

申请号：
CN201110021940.5
IPC分类号：H01R13/02;H01R13/03
申请日期：
2011-01-19
申请人：
富士康（昆山）电脑接插件有限公司;鸿海精密工业股份有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	测试连接器
申请号	CN201110021940.5	申请日期	2011-01-19
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2012-07-25	公开/公告号	CN102610941A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H01R13/02 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H01 基本电气元件 H01R 导电连接；一组相互绝缘的电连接元件的结构组合；连接装置；集电器（开关，熔断器入H01H；波导型耦合装置入H01P 5/00；供电或配电切换装置入H02B；电线或电缆、光电电线或电缆或电气辅助设备的安装入H02G；与印刷电路电连接或印刷电路之间电连接用的印制装置入H05K） H01R13/00 H01R 12/70或H01R 24/00至H01R 33/00组中所包含的各种连接装置的零部件〔1，7〕 H01R13/02 接触部件	IPC分类号	H;0;1;R;1;3;/;0;2;;;H;0;1;R;1;3;/;0;3查看分类表>
申请人	富士康（昆山）电脑接插件有限公司;鸿海精密工业股份有限公司	申请人地址	江苏省苏州市昆山市玉山镇北门路999号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	富士康（昆山）电脑接插件有限公司,鸿海精密工业股份有限公司	当前权利人	富士康（昆山）电脑接插件有限公司,鸿海精密工业股份有限公司
发明人	谢文逸
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

一种测试连接器，用于测试芯片模块，其包括布有若干线路的晶圆。所述测试连接器还包括设于晶圆上方的测试端子以及设于晶圆下方的导电介质。该测试端子与导电介质分别与晶圆内的相应线路的两端相连。该测试端子为奈米碳管端子。该测试连接器测点密度高，一次可检测较多晶粒，可以减少测试时间，且能满足高密度晶圆的测试需求。

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