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基于匀速动点目标的光学系统横向放大率测量方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201210085016.8
  • IPC分类号:G01M11/02
  • 申请日期:
    2012-03-17
  • 申请人:
    哈尔滨工业大学
著录项信息
专利名称基于匀速动点目标的光学系统横向放大率测量方法
申请号CN201210085016.8申请日期2012-03-17
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2012-08-01公开/公告号CN102620910A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01M11/02IPC分类号G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人哈尔滨工业大学申请人地址
黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人哈尔滨工业大学当前权利人哈尔滨工业大学
发明人谭久彬;赵烟桥;刘俭
代理机构暂无代理人暂无
摘要
基于匀速动点目标的光学系统横向放大率测量方法属于以采用光学方法为特征的计量设备领域;本方法在点目标匀速运动状态下对其成像,得到线状图像,在频域中利用实际测量得到的调制传递函数值第一次达到极小值时所对应的频率与理论截止频率相等,计算得到图像传感器的光学系统横向放大率;采用本发明测量光学系统横向放大率,有利于减小单次测量结果之间的误差,进而提高测量结果重复性。

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