利用匀速动点目标的光学系统横向放大率测量方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201210085051.X
IPC分类号：G01M11/02
申请日期：
2012-03-17
申请人：
哈尔滨工业大学

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专利名称	利用匀速动点目标的光学系统横向放大率测量方法
申请号	CN201210085051.X	申请日期	2012-03-17
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日	2012-07-25	公开/公告号	CN102607816A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 G01M11/02 光学性质的测试	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	哈尔滨工业大学	申请人地址	黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	哈尔滨工业大学	当前权利人	哈尔滨工业大学
发明人	谭久彬;赵烟桥;刘俭
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

利用匀速动点目标的光学系统横向放大率测量方法与装置属于以采用光学方法为特征的计量设备领域；本方法在点目标匀速运动状态下对其成像，得到线状图像，在频域中寻找像素间距的取值范围，并根据与像素间距相关的实际调制传递函数曲线与理论调制传递函数曲线在最小二乘条件下重合度最好，利用搜索算法计算得到光学系统横向放大率；本装置中承载点目标的滑块安装在第一导轨和第二导轨上，控制器控制滑块在第一导轨上匀速运动时，控制器控制滑块在第二导轨上运动，且两个方向的运动相配合，使点目标在运动过程中始终准焦成像到图像传感器表面；采用本发明测量光学系统横向放大率，有利于减小单次测量结果之间的误差，进而提高测量结果重复性。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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