专利名称 | 一种用于测量光盘盘基厚度的检测计 | ||
申请号 | CN201310265242.9 | 申请日期 | 2013-06-27 |
法律状态 | 驳回 | 申报国家 | 中国 |
公开/公告日 | 2013-10-09 | 公开/公告号 | CN103344206A |
优先权 | 暂无 | 优先权号 | 暂无 |
主分类号 | G01B21/08 | IPC分类号 | G;0;1;B;2;1;/;0;8查看分类表> |
申请人 | 开平市盈光机电科技有限公司 | 申请人地址 | 广东省江门市开平三埠区祥龙中路42号5幢
变更
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权利人 | 开平市盈光机电科技有限公司 | 当前权利人 | 开平市盈光机电科技有限公司 |
发明人 | 张书庭 | ||
代理机构 | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 喻新学 |
序号 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日 | 申请日 | 专利名称 | 申请人 |
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该专利没有引用任何外部专利数据! |
序号 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日 | 申请日 | 专利名称 | 申请人 |
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该专利没有被任何外部专利所引用! |
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