一种电子设备及信息处理方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201410353929.2
IPC分类号：G01J3/12;G01J3/30;G02F1/01
申请日期：
2014-07-23
申请人：
联想（北京）有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种电子设备及信息处理方法
申请号	CN201410353929.2	申请日期	2014-07-23
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-02-17	公开/公告号	CN105333954A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J3/12 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J3/00 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色〔4〕 G01J3/12 光谱的产生；单色器	IPC分类号	G;0;1;J;3;/;1;2;;;G;0;1;J;3;/;3;0;;;G;0;2;F;1;/;0;1查看分类表>
申请人	联想（北京）有限公司	申请人地址	北京市海淀区上地西路6号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	联想（北京）有限公司	当前权利人	联想（北京）有限公司
发明人	张振华;尚可
代理机构	北京派特恩知识产权代理有限公司	代理人	张振伟;张颖玲

摘要

本发明公开了一种电子设备及光处理方法，为缩小电子设备的体积而设计。所述电子设备，包括光检测单元及与处理单元；所述光检测单元包括：光子晶体层，所述光子晶体层能依据向所述光子晶体层施加的电压，对第一入射光中的第一波长的光进行反射和透射；感光层，位于所述光子晶体层的透光侧，所述感光层用于在所述光子晶体层对所述第一波长的光进行反射时，检测所述光子晶体层透射的第一透射光的第一参数；及在所述光子晶体层对所述第一波长的光进行透射时，检测所述光子晶体层透射的第二透射光的第二参数；所述处理单元与所述光检测单元相连；其中，所述处理单元用于根据所述第一参数及所述第二参数形成所述第一波长的光谱。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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