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表面发射激光器元件和阵列、光学扫描装置以及成像设备

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN200910139045.6
  • IPC分类号:H01S5/183;H01S5/187;H01S5/42;G02B26/10;G03G15/04
  • 申请日期:
    2009-05-15
  • 申请人:
    株式会社理光
著录项信息
专利名称表面发射激光器元件和阵列、光学扫描装置以及成像设备
申请号CN200910139045.6申请日期2009-05-15
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2009-11-18公开/公告号CN101582562
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01S5/183IPC分类号H;0;1;S;5;/;1;8;3;;;H;0;1;S;5;/;1;8;7;;;H;0;1;S;5;/;4;2;;;G;0;2;B;2;6;/;1;0;;;G;0;3;G;1;5;/;0;4查看分类表>
申请人株式会社理光申请人地址
日本东京都 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人株式会社理光当前权利人株式会社理光
发明人原坂和宏;佐藤俊一;轴谷直人;石井稔浩
代理机构北京市柳沈律师事务所代理人王冉
摘要
本发明公开了一种表面发射激光器元件和阵列、光学扫描装置以及成像设备在表面发射激光器元件中,在衬底上,该衬底的主表面的法线方向是倾斜的,包括有源层的谐振器结构体和夹住谐振器结构体的下半导体DBR和上半导体DBR堆叠。在上半导体DBR的氧化物限制结构中的电流通过区域的形状关于通过电流通过区域的中心并平行于X轴的轴对称,并关于通过电流通过区域的中心并平行于Y轴的轴对称,电流通过区域的长度在Y轴方向大于在X轴方向。围绕电流通过区域的氧化层厚度在-Y方向大于在+X和-X方向。

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