考虑裂缝倾角的裂缝型储层电导率模型及其构建方法和应用

发明专利有效专利

申请号：
CN202110693391.X
IPC分类号：G06F30/20;G01N27/04
申请日期：
2021-06-22
申请人：
成都理工大学

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著录项信息

专利名称	考虑裂缝倾角的裂缝型储层电导率模型及其构建方法和应用
申请号	CN202110693391.X	申请日期	2021-06-22
法律状态	实质审查	申报国家	暂无
公开/公告日	2021-08-27	公开/公告号	CN113312796A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F30/20	IPC分类号	G;0;6;F;3;0;/;2;0;;;G;0;1;N;2;7;/;0;4查看分类表>
申请人	成都理工大学	申请人地址	四川省成都市成华区二仙桥东三路1号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	成都理工大学	当前权利人	成都理工大学
发明人	田杰;王亮;司马立强;刘红歧;杨连刚;孙杨沙
代理机构	北京众合诚成知识产权代理有限公司	代理人	龚燮英

摘要

本发明公开了一种考虑裂缝倾角的裂缝型储层电导率模型及其构建方法和应用，其构建方法包含：(1)在各向异性介质中，基于欧姆定律建立沿着电场方向上的电导率，从而获得裂缝型储层中任意裂缝倾角下的电导率；(2)将裂缝型储层中沿着裂缝方向的电导率视为基质电导率与裂缝电导率的并联，裂缝型储层中垂直于裂缝发育方向的电导率视为基质电导率与裂缝电导率的串联，并结合所述裂缝型储层中任意裂缝倾角下的电导率，获得考虑裂缝倾角的裂缝型储层电导率模型。本发明弥补了裂缝型储层孔隙度指数研究工作的短缺，针对裂缝型储层，提供一套更完善的孔隙度指数计算模型，对含水饱和度的准确计算更为有利，能够用于储层孔隙度指数评价工作。

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