闭孔温度和破膜温度测试系统

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201721251315.9
IPC分类号：G01K13/00;G01K7/02
申请日期：
2017-09-27
申请人：
上海恩捷新材料科技股份有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	闭孔温度和破膜温度测试系统
申请号	CN201721251315.9	申请日期	2017-09-27
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01K13/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01K 温度测量；热量测量；未列入其他类目的热敏元件（辐射高温测定法入G01J 5/00） G01K13/00 适用于特殊目的的温度计	IPC分类号	G;0;1;K;1;3;/;0;0;;;G;0;1;K;7;/;0;2查看分类表>
申请人	上海恩捷新材料科技股份有限公司	申请人地址	广东省珠海市平沙镇平东路2233号楼中大创新谷F区F5 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	珠海恩捷新材料科技有限公司	当前权利人	珠海恩捷新材料科技有限公司
发明人	程跃;熊磊
代理机构	上海光华专利事务所（普通合伙）	代理人	余明伟

摘要

本实用新型提供一种闭孔温度和破膜温度测试系统，包括：加热装置；用于夹持隔膜的隔膜夹具，位于加热装置内；输气装置，包括喷气装置、气体压缩装置及输气管路；输气管路一端与喷气装置的进气口相连接，另一气体压缩装置相连接；用于测试所述隔膜的透气值及温度的测量装置，位于加热装置内，且位于隔膜夹具远离喷气装置的一侧；用于进行控制及数据采集的控制及数据采集处理装置，控制及数据采集处理装置与加热装置、气体压缩装置及测量装置电连接。本实用新型可以实现对隔膜透气值随温度变化的准确测试，通过透气值变化的转折点能够准确反应隔膜的闭孔温度和破膜温度，避免了对隔膜直接接触测试时可能存在的误差，使得测量结果具有较高的准确性。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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