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一种用于双面电化学机械抛光平面构件的设备及方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201810602821.0
  • IPC分类号:B24B37/08;B24B37/28;B24B37/22;B24B37/34
  • 申请日期:
    2018-06-08
  • 申请人:
    大连理工大学
著录项信息
专利名称一种用于双面电化学机械抛光平面构件的设备及方法
申请号CN201810602821.0申请日期2018-06-08
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2018-10-02公开/公告号CN108608314A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号B24B37/08IPC分类号B;2;4;B;3;7;/;0;8;;;B;2;4;B;3;7;/;2;8;;;B;2;4;B;3;7;/;2;2;;;B;2;4;B;3;7;/;3;4查看分类表>
申请人大连理工大学申请人地址
辽宁省大连市甘井子区凌工路2号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人大连理工大学当前权利人大连理工大学
发明人康仁科;朱祥龙;郭江;董志刚;金洙吉;吴頔
代理机构大连理工大学专利中心代理人李晓亮;潘迅
摘要
本发明属于电化学机械抛光领域,涉及一种用于双面电化学机械抛光平面构件的设备及方法,可应用于导电材料平面构件的低应力、高效抛光。本发明的设备包括双面研磨装置、电化学机械抛光垫、导电夹持装置、电源供应部、电解液供应部。利用游星片连接电源正极和平面构件,通过上下阴极层和抛光垫中的电解液将电源的负极与导电平面构件相连,从而构成回路实现双面电化学机械抛光。本发明可以用于导电平面构件的双面平坦化,具有材料去除率更高、电路稳定、排液顺畅、反应稳定、结构简单、装配方便、修形能力提高等优点。

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