空胶囊的无损检测装置

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201320021878.4
IPC分类号：G01N21/95
申请日期：
2013-01-15
申请人：
杭州日晷自动化科技有限公司

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著录项信息

专利名称	空胶囊的无损检测装置
申请号	CN201320021878.4	申请日期	2013-01-15
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/95 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕 G01N21/88 测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕 G01N21/95 特征在于待测物品的材料或形状（G01N 21/89至G01N 21/91，G01N 21/94优先）〔7〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;9;5查看分类表>
申请人	杭州日晷自动化科技有限公司	申请人地址	浙江省杭州市经济技术开发区中国计量学院现代科技学院逸夫科技楼十楼1005室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	杭州日晷自动化科技有限公司	当前权利人	杭州日晷自动化科技有限公司
发明人	史晓忠
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本实用新型公开了一种空胶囊无损检测装置，包括机架和电机，在机架上设有显示器、控制面板和料仓，在料仓的下部设有分料结构，在分料结构的下方设有链条，在链条上方设有照相结构，所述分料结构包括上分料盘和下分料盘，在上料盘上设有分料板，四周边缘设有圆形支撑板，在支撑板的中部设有分散结构，在上分料盘的四周边缘设有等间隔设置的分料孔，所述上分料盘与下分料盘之间的间距大于等于胶囊的高度，在下分料盘的一侧边缘形成向下浅凹式滑坡；本实用新型结构精巧，对于胶囊排列要求低，同时对胶囊的检测率大大高，生产成本低。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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