确定荧光标记的位置的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN200510124700.2
IPC分类号：G01N21/64;G01N23/00;G01N35/00
申请日期：
2005-11-09
申请人：
FEI公司;皇家飞利浦电子股份有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	确定荧光标记的位置的方法
申请号	CN200510124700.2	申请日期	2005-11-09
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2006-06-21	公开/公告号	CN1789982
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/64 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/62 所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统〔3〕 G01N21/63 光学激发的〔3〕 G01N21/64 荧光；磷光〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;6;4;;;G;0;1;N;2;3;/;0;0;;;G;0;1;N;3;5;/;0;0查看分类表>
申请人	FEI公司;皇家飞利浦电子股份有限公司	申请人地址	美国俄勒冈州变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	FEI公司	当前权利人	FEI公司
发明人	B·布伊斯塞;R·F·M·亨德里克斯
代理机构	中国专利代理（香港）有限公司	代理人	杨凯;梁永

摘要

本发明描述以高空间分辨率确定试样(4)中荧光标记的位置的方法。为此，用激励光束(11)照射试样(4)，同时用粒子束(3)扫描试样(4)。扫描时，标记被粒子束(3)碰撞，并被破坏，这样被碰撞的标记不再发出荧光辐射。这就导致荧光辐射通量下降。检测这种下降。由于在标记被破坏的瞬间粒子束(3)相对于试样的位置是已知的，因此也就可以知道试样中标记的位置。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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