用于使用频域干涉测量法进行光学成像的方法和设备

发明专利无效专利

申请号：
CN201310023430.0
IPC分类号：A61B5/00;G02B27/48
申请日期：
2004-09-08
申请人：
通用医疗公司

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著录项信息

专利名称	用于使用频域干涉测量法进行光学成像的方法和设备
申请号	CN201310023430.0	申请日期	2004-09-08
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2013-07-03	公开/公告号	CN103181754A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	A61B5/00 ? IPC结构图谱： A 人类生活必需 A6 保健；救生；娱乐 A61 医学或兽医学；卫生学 A61B 诊断；外科；鉴定（分析生物材料入G01N，如G01N33/48） A61B5/00 用于诊断目的的测量（放射诊断入A61B6/00；超声波、声波或次声波诊断入A61B8/00）；人的辨识	IPC分类号	A;6;1;B;5;/;0;0;;;G;0;2;B;2;7;/;4;8查看分类表>
申请人	通用医疗公司	申请人地址	美国马萨诸塞州变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	通用医疗公司	当前权利人	通用医疗公司
发明人	尹锡贤;布雷特·尤金·鲍马;吉列尔莫·J·蒂尔尼;约翰内斯·菲茨杰拉德·德·布尔
代理机构	北京集佳知识产权代理有限公司	代理人	朱胜;郑宗玉

摘要

提供了一种用于使用频域干涉测量法进行光学成像的方法和设备。具体而言，至少一个第一电磁辐射可以提供给样品并且至少一个第二电磁辐射可以提供给非反射的参考。所述第一和/或第二辐射的频率随时间变化。在关联于所述第一辐射的至少一个第三辐射与关联于所述第二辐射的至少一个第四辐射之间检测干涉。可替换地，所述第一电磁辐射和/或第二电磁辐射具有随时间变化的谱。所述谱在特定时间可以包含多个频率。另外，有可能以第一偏振态检测所述第三辐射与所述第四辐射之间的干涉信号。此外，可以优选地以不同于所述第一偏振态的第二偏振态检测所述第三和第四辐射之间的又一干涉信号。所述第一和/或第二电磁辐射可以具有中值频率以大于每毫秒100万亿赫兹的调谐速度随时间基本上连续变化的谱。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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