射频功率时域测量方法及校准方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201711489749.7
IPC分类号：G01R35/00;G01R19/25
申请日期：
2017-12-30
申请人：
中国电子产品可靠性与环境试验研究所

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著录项信息

专利名称	射频功率时域测量方法及校准方法
申请号	CN201711489749.7	申请日期	2017-12-30
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2018-06-15	公开/公告号	CN108169701A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R35/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R35/00 包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准〔2〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;5;/;0;0;;;G;0;1;R;1;9;/;2;5查看分类表>
申请人	中国电子产品可靠性与环境试验研究所	申请人地址	广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国电子产品可靠性与环境试验研究所	当前权利人	中国电子产品可靠性与环境试验研究所
发明人	方文啸;骆成阳;贺致远;王磊;邵伟恒;张鹏南;黄云;恩云飞
代理机构	广州华进联合专利商标代理有限公司	代理人	暂无

摘要

本发明实施例提供一种射频功率时域测量方法及校准方法，上述射频功率时域测量方法包括将功率探头和待测板微带线相对放置，使功率探头位于待测板微带线上方并垂直于待测板微带线，且功率探头线圈中心投影在待测板微带线上；并将功率探头与示波器通过符合测试要求的传输线分别与示波器的第一通道和第二通道连接；在向待测板微带线输入符合测试要求的测量信号时，示波器采集功率探头的功率输出信号；计算机根据功率探头的功率输出信号获得待测板的射频功率。这种非接触式测量方法，可以在不修改系统或者停止系统的条件下进行对射频功率的时域测量，方便测试。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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