射频器件测试装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201420112053.8
IPC分类号：G01R31/00;G01R1/04
申请日期：
2014-03-12
申请人：
京信通信系统（中国）有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	射频器件测试装置
申请号	CN201420112053.8	申请日期	2014-03-12
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0;;;G;0;1;R;1;/;0;4查看分类表>
申请人	京信通信系统（中国）有限公司	申请人地址	广东省广州市广州经济技术开发区金碧路6号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	京信通信系统（广州）有限公司,京信通信技术(广州)有限公司	当前权利人	京信通信系统（广州）有限公司,京信通信技术(广州)有限公司
发明人	王宁;党志南;贺斌;欧晓明
代理机构	北京市立方律师事务所	代理人	刘延喜;王增鑫

摘要

本实用新型提供一种射频器件测试装置，包括固定模块，用于固定被测射频器件，设有若干位置可调的接头组件；测试模块，用于发送测试命令和执行对被测射频器件的测试操作，与固定模块的接头组件电性连接；控制模块，用于受测试模块的测试命令驱动而机电地驱动固定模块的接头组件与被测射频器件的接头连接。通过上述方式，可实现射频器件的自动化测试。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供