利用波面整形器的超高速三维折射率影像拍摄和荧光结构光照明显微镜系统及其使用方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201610712730.3
IPC分类号：G01N21/45;G01N21/64
申请日期：
2016-08-23
申请人：
唐摩库柏公司;韩国高等科学技术学院

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专利名称	利用波面整形器的超高速三维折射率影像拍摄和荧光结构光照明显微镜系统及其使用方法
申请号	CN201610712730.3	申请日期	2016-08-23
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2017-12-19	公开/公告号	CN107490562A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/45 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕 G01N21/41 折射率；影响相位的性质，例如光程长度（G01N 21/21优先）〔3〕 G01N21/45 利用干涉量度法，利用纹影方法〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;4;5;;;G;0;1;N;2;1;/;6;4查看分类表>
申请人	唐摩库柏公司;韩国高等科学技术学院	申请人地址	韩国大田广域市变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	唐摩库柏公司,韩国高等科学技术学院	当前权利人	唐摩库柏公司,韩国高等科学技术学院
发明人	朴龙根;申升雨;朴光植
代理机构	上海晨皓知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	成丽杰

摘要

揭示了一种利用波面整形器的超高速三维折射率影像拍摄和荧光结构光照明显微镜系统及其使用方法。利用波面整形器的超高速三维折射率影像拍摄和荧光结构光照明显微镜系统的使用方法，包括如下步骤：利用波面整形器，调整入射到样本的平面波的照射角度；测定通过基于所述平面波的照射角度的所述样本的二维光场；和基于测定的所述二维光场信息，利用光衍射断层拍摄法或滤波反投影算法获取三维折射率影像。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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