超高频局部放电放电量监测采集方法、装置和系统

发明专利无效专利

申请号：
CN201010157377.X
IPC分类号：G01R31/12;G01R31/14
申请日期：
2010-04-27
申请人：
重庆大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	超高频局部放电放电量监测采集方法、装置和系统
申请号	CN201010157377.X	申请日期	2010-04-27
法律状态	权利终止	申报国家	暂无
公开/公告日	2010-09-01	公开/公告号	CN101819246A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/12 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/12 测试介电强度或击穿电压	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;1;2;;;G;0;1;R;3;1;/;1;4查看分类表>
申请人	重庆大学	申请人地址	重庆市沙坪坝区沙正街174号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	重庆大学	当前权利人	重庆大学
发明人	杜林;李剑;王有元;唐炬;张晓星;姚陈果;米彦;颜梁钦
代理机构	北京同恒源知识产权代理有限公司	代理人	谢殿武

摘要

本发明公开了一种超高频局部放电放电量监测采集方法，该方法经过分析超高频局部放电的信号特征，通过扫描比较电平与局部放电信号进行电平比较，获取工频周期各相位区间超过比较电平的脉冲数，通过逐步提高比较电平，得到不同比较电平的脉冲数量，如无比较脉冲输出，则局部放电幅值小于该设置的比较电平，通过不同比较电平下的脉冲数值，可得到超高频局部放电信号的三维谱图，将常规的高速大容量数据采集变为高频的脉冲比较计数，简化了超高频局部放电监测电路，本发明的装置使用范围广，准确度较高，装置结构简单、体积不大，成本低廉，操作简单且便于携带。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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