一种针对回光反射标志的可变权重像点定位方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201310340841.2
IPC分类号：G01B11/00
申请日期：
2013-08-07
申请人：
北京信息科技大学

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专利名称	一种针对回光反射标志的可变权重像点定位方法
申请号	CN201310340841.2	申请日期	2013-08-07
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2013-11-27	公开/公告号	CN103411535A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人	北京信息科技大学	申请人地址	北京市海淀区清河小营东路12号北京信息科技大学光电学院变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京信息科技大学	当前权利人	北京信息科技大学
发明人	董明利;庄炜;孙鹏;王君;燕必希;祝连庆;娄小平
代理机构	北京律恒立业知识产权代理事务所（特殊普通合伙）	代理人	顾珊;陈轶兰

摘要

本发明提供了一种针对回光反射标志的可变权重像点定位方法，所述方法包括如下步骤：a)设置多个物方标志点；b)在不同站位对所述多个物方标志点进行拍摄，获取成像光斑上的多个位置点处的灰度值；c)获取和背景噪声有关的第二权重因子β；d)获取与测量场环境变量相关的第一权重因子α；e)根据所获取的第一权重因子α和第二权重因子β，计算所测量椭圆形像点的点中心坐标(x0,y0)。根据本发明的针对回光反射标志的中心定位方法较以往方法更为通用，可以适用于不同的现场环境，尽可能地消除了现场环境造成的影响，提高了回光反射标志点中心的定位精度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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