基于光电特性先验的显微成像的杂散光去除方法及装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201711373195.4
IPC分类号：G01N21/01;G06T5/00;H04N5/21
申请日期：
2017-12-19
申请人：
清华大学

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著录项信息

专利名称	基于光电特性先验的显微成像的杂散光去除方法及装置
申请号	CN201711373195.4	申请日期	2017-12-19
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2018-06-05	公开/公告号	CN108120680A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/01 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/01 便于进行光学测试的装置或仪器〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;0;1;;;G;0;6;T;5;/;0;0;;;H;0;4;N;5;/;2;1查看分类表>
申请人	清华大学	申请人地址	北京市海淀区清华园变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	清华大学	当前权利人	清华大学
发明人	范静涛;陈熙;戴琼海
代理机构	北京清亦华知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	张润

摘要

本发明公开了一种基于光电特性先验的显微成像的杂散光去除方法及装置，其中方法包括：布置暗室并在相机支持的曝光时间参数区间上以对数间断取点，拍摄第一照片；在暗室中仅打开仪器光源，在物镜下方使用光陷阱吸收光，以相机曝光时间和光源亮度组合，在光源亮度上均匀取点，且在相机曝光时间上述取点相同，拍摄第二照片；将第二照片减去第一照片以消除相机本身像感器对实验结果的干扰，进而获取杂散光在相机曝光时间和光源亮度上的变化规律；在对特定的一张图分析杂散光强度在空间上的优化分布模型时，根据变化规律得到采集照片中每个像素的杂散光数值，以去除杂散光的影响。该方法可以减少算法的时间复杂度，有效提高实验效率和图片清晰度。

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