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一种电子设备外壳完整性检测装置

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN201720148087.6
  • IPC分类号:G01M3/32
  • 申请日期:
    2017-02-20
  • 申请人:
    天传兴业(天津)检验有限公司
著录项信息
专利名称一种电子设备外壳完整性检测装置
申请号CN201720148087.6申请日期2017-02-20
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01M3/32IPC分类号G;0;1;M;3;/;3;2查看分类表>
申请人天传兴业(天津)检验有限公司申请人地址
天津市津南区天津双港高科技产业园联东优谷37-2 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人天传兴业(天津)检验有限公司当前权利人天传兴业(天津)检验有限公司
发明人侯良;曹霈雯;田磊;孙静波
代理机构暂无代理人暂无
摘要
本实用新型公开了一种电子设备外壳完整性检测装置,包括检测箱体,所述检测箱体的顶部螺纹连接有密封盖,所述密封盖的底部设有密封圈,所述压缩弹簧的一侧连接有卡板,两个所述卡板之间卡接有电子设备,所述检测箱体的底部连接有抽气管,所述抽气管的底部连接有抽气泵,所述检测箱体右侧的顶部连接有进气管,所述进气管的右侧连通进气筒,所述进气筒的内腔设有活塞,所述检测箱体右侧的底部连接有供气管,所述供气管表面的右侧设有空气流量传感器,所述供气管的右侧连通蓄气室。本实用新型具备便于对电子设备外壳完整性进行检测的优点,解决了检测电子设备外壳完整性较复杂会降低检测装置实用性的问题。

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