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基于偏振的干涉测量检测器

发明专利有效专利

申请号：
CN200780018285.X
IPC分类号：G01J4/00
申请日期：
2007-04-16
申请人：
比奥普蒂克斯有限责任公司

基础信息

权利要求

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	基于偏振的干涉测量检测器
申请号	CN200780018285.X	申请日期	2007-04-16
法律状态	暂无	申报国家	暂无
公开/公告日	2009-06-03	公开/公告号	CN101449135
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J4/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J4/00 测量光的偏振〔2〕	IPC分类号	G;0;1;J;4;/;0;0查看分类表>
申请人	比奥普蒂克斯有限责任公司	申请人地址	美国科罗拉多州变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	卡特尔拉公司,比奥普蒂克斯诊断公司	当前权利人	卡特尔拉公司,比奥普蒂克斯诊断公司
发明人	J·霍尔;V·彼得罗帕夫洛夫斯基克;O·尼尔森
代理机构	北京市金杜律师事务所	代理人	陈文平

摘要

本发明披露了一种用于测定样品物质的光学性质的传感器及方法。所述传感器包括能够产生相对于入射面具有预定偏振方向的线性偏振光束的光源。所述线性偏振光束被样品反射并被分为第二和第三光束，其中所述第二和第三光束由第一光束的相互正交分量的组合投影组成。信号处理器测定第二和第三光束之间的强度差异以计算样品物质引起的相差。

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