长波长扫描近场显微分析系统

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专利名称	长波长扫描近场显微分析系统
申请号	CN201410200652.X	申请日期	2014-05-13
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日	2014-07-30	公开/公告号	CN103954802A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01Q60/18 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01Q 扫描探针技术或设备；扫描探针技术的应用，例如，扫描探针显微术〔SPM〕〔2010.01〕 G01Q60/00 特殊类型的SPM 〔扫描探针显微术〕或其设备；其基本组成〔2010.01〕 G01Q60/18 SNOM 〔扫描近场光学显微术〕或其设备，例如，SNOM探针〔2010.01〕	IPC分类号	G;0;1;Q;6;0;/;1;8查看分类表>
申请人	中国科学技术大学	申请人地址	安徽省合肥市包河区金寨路96号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学技术大学	当前权利人	中国科学技术大学
发明人	陆亚林;杨蒙蒙;黄秋萍;胡翔;陆轻铀
代理机构	中科专利商标代理有限责任公司	代理人	曹玲柱

摘要

本发明提供了一种长波长扫描近场显微分析系统。该长波长扫描近场显微分析系统集成宽频长波长和单频太赫兹波、利用扫描探针、集成可变电场、可变磁场、可变温度场的近场显微分析系统，填补了在近场显微领域里长波段的技术空白，连接起近场光学显微技术、近场微波显微技术，为科研人员提供了一种全方位的样品物性测试工具。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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