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半导体装置以及构成半导体结构的方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201010000787.3
  • IPC分类号:H01L27/092;H01L29/06;H01L21/8238
  • 申请日期:
    2010-01-20
  • 申请人:
    崇贸科技股份有限公司
著录项信息
专利名称半导体装置以及构成半导体结构的方法
申请号CN201010000787.3申请日期2010-01-20
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2010-10-06公开/公告号CN101853856A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L27/092IPC分类号H;0;1;L;2;7;/;0;9;2;;;H;0;1;L;2;9;/;0;6;;;H;0;1;L;2;1;/;8;2;3;8查看分类表>
申请人崇贸科技股份有限公司申请人地址
中国台湾 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人崇贸科技股份有限公司当前权利人崇贸科技股份有限公司
发明人蒋昕志;邰翰忠
代理机构北京市柳沈律师事务所代理人陈小雯
摘要
本发明公开一种半导体装置以及构成半导体结构的方法,该半导体装置包括基底、第一深井区、以及第一高端装置。基底具有第一传导型态。深井区具有第二传导型态,且形成在基底上。第一高端装置包括隔离层、第二深井区、第一区域、第二区域、以及第一多晶硅材料。隔离层具有第二传导型态且形成在基底。第二深井区具有第一传导型态,形成在第一深井区内且在该隔离层上方。第一区域及第二区域皆具有第二传导型态且皆形成在第二深井区内。第一多晶硅材料配置在第一区域与第二区域之间且在第一深井区上。

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