一种nandflash储存芯片测试治具

实用新型专利有效专利

申请号：
CN202020585189.6
IPC分类号：G11C29/56
申请日期：
2020-04-17
申请人：
深圳市芯片测试技术有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种nandflash储存芯片测试治具
申请号	CN202020585189.6	申请日期	2020-04-17
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C29/56 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C29/00 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器〔1，8〕 G11C29/56 用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备〔ATE〕；所用接口〔8〕	IPC分类号	G;1;1;C;2;9;/;5;6查看分类表>
申请人	深圳市芯片测试技术有限公司	申请人地址	广东省深圳市龙岗区横岗街道志盛社区隆盛花园兴龙阁5A 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳市芯片测试技术有限公司	当前权利人	深圳市芯片测试技术有限公司
发明人	黄辉
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本实用新型公开了一种nandflash储存芯片测试治具，包括治具主体，所述治具主体上设置有两个测试槽，所述测试槽内设置有与nandflash储存芯片的引脚相对应的测试触点，所述测试槽的上方设置有定位支架，所述定位支架上螺纹连接有定位螺杆，所述定位螺杆的底端连接有橡胶块，所述橡胶块与所述nandflash储存芯片之间设置有定位板，所述定位螺杆带动所述橡胶块下降，所述橡胶块通过所述定位板对所述nandflash储存芯片施加向下的力，进而使得的引脚与所述测试触点相接触，方便相应的检测设备对所述nandflash储存芯片进行检测。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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