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一种改善银电化学迁移的Ag-Si纳米焊膏的制备方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201811164514.5
  • IPC分类号:B23K35/30
  • 申请日期:
    2018-10-06
  • 申请人:
    天津大学
著录项信息
专利名称一种改善银电化学迁移的Ag-Si纳米焊膏的制备方法
申请号CN201811164514.5申请日期2018-10-06
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2019-01-29公开/公告号CN109277722A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号B23K35/30IPC分类号B;2;3;K;3;5;/;3;0查看分类表>
申请人天津大学申请人地址
天津市津南区海河教育园雅观路135号天津大学北洋园校区 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人天津大学当前权利人天津大学
发明人梅云辉;李丹;李欣;陆国权
代理机构天津市北洋有限责任专利代理事务所代理人李素兰
摘要
本发明涉及一种改善银电化学迁移的Ag‑Si纳米焊膏的制备方法;将平均颗粒尺寸为15~100nm的硅颗粒与稀释剂通过超声水浴充分混合;将硅颗粒和稀释剂的混合物加入到平均颗粒尺寸为50~500nm的纳米银焊膏中并通过搅拌制得Ag‑Si纳米焊膏;发明的Ag‑Si纳米焊膏中硅易转化为二氧化硅,促使银离子化所需氧的含量也降低,有效改善银的电迁移。将制得的Ag‑Si纳米焊膏和商业纳米银焊膏分别以5℃/min的加热速率在280℃烧结,保温30min后炉冷,在400℃的高温条件下,施加200V的电压进行电迁移实验。结果证明Ag‑Si纳米焊膏的失效寿命相比纳米银焊膏至少提高了5.83倍。

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