电子组件测试装置与方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201911334478.7
IPC分类号：G01R35/00
申请日期：
2019-12-23
申请人：
致茂电子（苏州）有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	电子组件测试装置与方法
申请号	CN201911334478.7	申请日期	2019-12-23
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-07-09	公开/公告号	CN113093079A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R35/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R35/00 包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准〔2〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;5;/;0;0查看分类表>
申请人	致茂电子（苏州）有限公司	申请人地址	江苏省苏州市苏州高新区珠江路855号（第七号厂房）变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	致茂电子（苏州）有限公司	当前权利人	致茂电子（苏州）有限公司
发明人	黄志忠;童恒进;吴健铭;杜嘉豪;陈思芬
代理机构	北京集佳知识产权代理有限公司	代理人	赵晓荣

摘要

本申请提供一种电子组件测试装置与方法，所述电子组件测试方法包含下列步骤。首先，提供标准信号。并且，量测关联于电子组件的第一电流量测值或第一电压量测值。接着，量测关联于标准信号的信号量测值。接着，比对信号量测值与关联于标准信号的默认量测值，据以计算误差参数。以及，依据误差参数校正第一电流量测值或第一电压量测值，据以取得关联于电子组件的实际电流值或实际电压值。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供