光学玻璃粗糙度实时检测装置和方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200610117160.X
IPC分类号：G01B11/30
申请日期：
2006-10-16
申请人：
中国科学院上海光学精密机械研究所

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著录项信息

专利名称	光学玻璃粗糙度实时检测装置和方法
申请号	CN200610117160.X	申请日期	2006-10-16
法律状态	权利终止	申报国家	暂无
公开/公告日	2007-04-11	公开/公告号	CN1945205
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/30 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/30 用于计量表面的粗糙度和不规则性	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;3;0查看分类表>
申请人	中国科学院上海光学精密机械研究所	申请人地址	上海市800－211邮政信箱变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院上海光学精密机械研究所	当前权利人	中国科学院上海光学精密机械研究所
发明人	程骅;沈卫星
代理机构	上海新天专利代理有限公司	代理人	张泽纯

摘要

一种用于光学抛光机的光学玻璃粗糙度实时检测装置和方法，本发明是利用激光的表面散射原理，在光学玻璃被加工的同时，不离开工作台的情况下，通过调整激光光源发出的光束与玻璃待测表面的入射角大于或等于全反射角，将散射光同反射光自然分开，分别测量这两束光的强度，并且转化为电流强度，计算这两束光激发产生的电流强度之比，以精确的计算出待测表面的表面粗糙度。本发明是一种无损检测措施，它能够实现环抛机实时地进行无损监测，检测不伤害任何工件，保证具有较高检测精度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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